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產品詳細頁

激光塵埃粒子計數器

簡(jian)要描述:CIJ-E型激光塵埃粒子計數器(以下簡稱儀器)用于測量潔凈環境中單位體積空氣內的塵埃粒子大小及數目,可直接檢測潔凈度等級為*至百級的潔凈環境。
本儀(yi)器采(cai)用(yong)半(ban)導(dao)體(ti)(ti)激光(guang)光(guang)源,數碼顯示,其體(ti)(ti)積小、重量輕(qing)、檢測精度高、功能操作簡單明了,電腦控(kong)制(zhi),可打印采(cai)樣結果(guo),測試潔凈(jing)環境十(shi)分便利。廣泛(fan)應用(yong)于電子、光(guang)學(xue)、化學(xue)、食品、化妝(zhuang)品、醫藥(yao)衛生、生物(wu)制(zhi)品、航空航天等(deng)部門。

  • 產(chan)品(pin)廠(chang)地(di):常州市
  • 產品類別:塵埃粒子測試儀
  • 更新時間:2023-10-28
  • 瀏覽次數:1108

產品介紹

品牌良友儀器產地類別國產
應用領域醫療衛生,環保,化工,生物產業,地礦

一(yi)、用途(tu)

   CIJ-E型激光塵埃粒子計數器(以(yi)下簡稱儀器(qi))用于測量潔(jie)凈(jing)環境(jing)中單位體積(ji)空氣內的塵埃(ai)粒(li)子大小(xiao)及數目,可(ke)直接檢測潔(jie)凈(jing)度(du)等(deng)級(ji)為*至(zhi)百級(ji)的潔(jie)凈(jing)環境(jing)。

本(ben)儀器采(cai)用(yong)半導(dao)體(ti)激光光源,數(shu)碼顯示,其體(ti)積小、重量輕、檢測精度(du)高、功能操作簡單明了(le),電(dian)腦控制(zhi),可打印采(cai)樣結果(guo),測試(shi)潔凈環境(jing)十分(fen)便利。廣(guang)泛應用(yong)于電(dian)子(zi)、光學、化學、食品(pin)、化妝品(pin)、醫藥衛生、生物制(zhi)品(pin)、航空(kong)航天等部門。


二、主要(yao)技術參數

 1.光(guang)源(yuan): 全半導體(ti) 激光(guang)光(guang)源(yuan)

 2.采(cai)樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)

 3.檢測范圍: 100級(ji)(ji)~100萬級(ji)(ji)

 ;4.允許(xu)被測(ce)試(shi)空氣的含塵(chen)濃(nong)度≯10 萬顆/2.83L

 5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0  ; 5.0  10.0(μm)六檔

 6.顯示或(huo)打印可將2.83升/分內所含顆(ke)粒轉(zhuan)換成1m3所含顆(ke)粒數(shu)。

 7.采樣周期: 1~10 (min)

 8.自凈時間(jian): ≤15 (min)

9.工作環境: 溫(wen)(wen)度:10~35℃    相對溫(wen)(wen)度:20~75%RH

 10.zui大功耗: 25W

 11.測量(liang)溫度和濕度的范圍與(yu)精度:(選購)

   (1)         溫度:0~50℃±1℃

   (2)         濕度:0~100%RH±;5%

 12.采樣點(dian)數   2~7點(dian)設定

 13.每點采樣次(ci)數   2~9次(ci)設定(ding)

 14.UCL報表:符合FS-209E、中(zhong)國GMP的標準

 15.工作(zuo)時間:8 小時

 16.電源: AC220V±10%    50±2Hz

 17.重(zhong)量:4.8kg

 18.外形尺寸(cun): 260×130×340

 19.六(liu)檔粒徑(jing)塵埃濃度同(tong)時檢(jian)測,依次數字顯(xian)示(shi)或自選(xuan)粒徑(jing)顯(xian)示(shi)。

 20.備注: 內置打(da)印機、自(zi)動(dong)判斷凈化(hua)等級、等動(dong)力采(cai)樣頭、采(cai)樣架(jia)

(溫濕度探頭為選購件)




三、激光塵埃粒子計數器工作原理

 CLJ—E,根(gen)據(ju)顆(ke)粒(li)的(de)光(guang)(guang)散(san)射原理設計制造(zao)。微米級的(de)塵埃顆(ke)粒(li)在光(guang)(guang)的(de)電磁波作用下,符合。Me光(guang)(guang)散(san)射理論,其光(guang)(guang)散(san)射強度與(yu)顆(ke)粒(li)粒(li)徑(jing)成某種(zhong)比例,因此測(ce)檢光(guang)(guang)散(san)射強就可測(ce)定顆(ke)粒(li)的(de)大小,而光(guang)(guang)脈沖的(de)個數即為相應顆(ke)粒(li)的(de)顆(ke)數。


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